PRODUCT 05 バウンダリースキャンテスター(BST)

BGA/CSP搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定可能なバウンダリスキャンテスター

Concept
冶具レスで試作段階から容易に検査可能

プロセッサ-のJTAGインサ-キットエミュレ-ションが可能で開発から製造までシ-ムレスに利用できます。

Function

  • テスト前にあらかじめテストカバレ-ジの算定が可能(DFT)
  • 不良箇所の特定はもちろん不良内容の特定が可能(ADO)
  • FPGA、CPLD、フラッシュメモリにインシステムプログラミングが可能
  • BST非対応のBST周辺デバイスに対しても、BSTデバイスを経由しての検査が可能