BGA/CSP搭載基板の不良箇所をピンレベルで特定可能なバウンダリスキャンテスター
- Concept
- 冶具レスで試作段階から容易に検査可能
プロセッサ－のJTAGインサ－キットエミュレ－ションが可能で開発から製造までシ－ムレスに利用できます。
Function
- ●テスト前にあらかじめテストカバレ－ジの算定が可能(DFT)
- ●不良箇所の特定はもちろん不良内容の特定が可能(ADO)
- ●FPGA、CPLD、フラッシュメモリにインシステムプログラミングが可能
- ●BST非対応のBST周辺デバイスに対しても、BSTデバイスを経由しての検査が可能
検査装置フルラインナップ
Category 1基板検査装置
Category 2プレス機
Category 3自動化・省力化
