AIで『虚報*』を大幅に低減！
*高感度検出スキャン時、正常箇所を不良と判定してしまう「過検出」のこと
- Concept
- 従来課題であった「検出感度を上げれば上げるほど虚報が発生し、確認工数が増えてしまう問題」を
AIの高度な学習能力と判断機能により一挙に解決。
- 微細な傷を発見するために検出感度を上げると虚報が増え確認工数が膨大になる、一方で虚報を減らすために検出感度を落とすと見落としが発生してしまうという相反する課題を、AIにより改善したニューコンセプト製品です。
- ①良品基板のみで機械学習
良品基板のみでAIを構築可能。不良基板の準備、読み込みを必要とせず、良品サンプルから良品モデルを生成することができます。 - ②目視検査の効率を大きく改善
AIによる自動スキャン検査では、不良判定された被検査基板のみを目視検査すればよいため、全数目視検査に比べて、検査工数・負荷を大きく軽減することができます。
※高感度検出スキャンを必要としないケースに備えて、「AI非搭載モデル」もご用意しております。お気軽にご相談ください。
Demonstration MOVIE
- 検査の様子を動画にてご覧ください。
Performance
- 従来製品とAIの検査結果を比較ください。
- ▼ Sample1【検出感度設定：低】
- ●200μmのめっき不良1箇所を双方虚報なく検出
- ▼ Sample2【検出感度設定：中】
- ●従来製品では、虚報が相当箇所発生
→ AI搭載タイプは70×190μmのめっき不良1箇所のみを正確に検出
- ▼ Sample3【検出感度設定：高】
- ●従来製品では、多数の虚報が発生
→ AI搭載タイプは60μmのめっき不良を3箇所のみを正確に検出
- ▼ Sample4【汚れ検出モード】
- ●従来製品では、多数の虚報が発生
→ AI搭載タイプは汚れた箇所のみを正しく検出
Specifications
- 検査装置の主な仕様です。
| 項目 | 仕様 |
|---|---|
| 製品名 | 微細電極検査装置 |
| 形式 | IPB0-160C26-NWR |
| 装置構成（*下図ご参照） | 撮影部（ラインカメラ駆動）
パソコン モニター |
| ワークセット | 手置き |
| ラインカメラ駆動方式 | ベルト駆動制御
ラックギア駆動制御 |
| 検査方式 | AI搭載良品比較検査 |
| カメラ分解能 | 15.8μm（1,600dpi） |
| 読取有効サイズ | 幅250mm×長さ330mm ※Mサイズ基板相当
63mm幅にて画像を取得 |
| 撮影可能最大部品高 | 片面20mm |
| 光源 | 白色LEDライン照明 |
| 読取速度 | 12mm/sec.（1,600dpi時） |
| 装置寸法 | 撮影部 高さ330mm×左右524mm×奥行き692mm |
| 本体重量 | 35kg |
| 入力電源 | 単相AC100〜240V（50/60Hz） |
| 消費電力 | 2A |
検査装置フルラインナップ
Category 1基板検査装置
Category 2プレス機
Category 3自動化・省力化
