PRODUCT 04 CHECKSUM V12 インサーキットテスター(ICT)

高速インサ-キットテストで実装基板の製造不良を検出

Concept
省スペース、高い汎用性と拡張性

卓上からインラインまで、生産ラインに合わせた多彩なICTシステムの構築が可能です。

Function

  • オープン/ショートやLCR・ダイオード極性等のアナログテストに対応
  • QFPのオープン検出するTestJet技術(キイサイト社)搭載
  • 最大8,000テストピンまでのシステム構成が可能
  • マルチライター機能を組み合わることにより、インシステム・プログラミングが可能