高速インサ－キットテストで実装基板の製造不良を検出
- Concept
- 省スペース、高い汎用性と拡張性
卓上からインラインまで、生産ラインに合わせた多彩なICTシステムの構築が可能です。
Function
- ●オープン／ショートやLCR・ダイオード極性等のアナログテストに対応
- ●QFＰのオープン検出するTestJet技術（キイサイト社）搭載
- ●最大8,000テストピンまでのシステム構成が可能
- ●マルチライター機能を組み合わることにより、インシステム・プログラミングが可能
検査装置フルラインナップ
Category 1基板検査装置
Category 2プレス機
Category 3自動化・省力化
