バウンダリスキャンテスター
ScanPlus Boundary-Scan Test System
CSP、BGA、MCM 搭載基板のテストを可能にしました。
 | PCベースでバウンダリスキャン・テストパターンを自動生成、検査します。
 |
|---|
 | 半田ブリッジ、オープン等、ピンレベルの不良解析が可能です（スキャンプラス・ ランナーADOオプション）。
|
|---|
 | 検査機能には以下のものがあります。- TAP Integrity
- Interconnect
- Buswire
- Cluster
- メモリ、FIFOデバイステスト
|
|---|
|
|
製品に関するお問い合せ
仕様書（PDF）のダウンロード
・ScanPlus
・ScanPlus Flash
・ScanIO-280LV
コアリス製ScanPlus
コアリス社（米国カリフォルニア州）開発のScanPlusバウンダリスキャン・テスターは、IEEE標準規格1149.1とBSDL（バウンダリスキャン記述言語）標準に準拠したテストプログラムをPCベースで自動生成し、検査します。また、使用するアルゴリズムは、HP3070ボードテスターと同じで、アジレントテクノロジー社（旧名HP社）よりライセンス供与されています。従って、HP3070で作成されたテストベクタも利用することが可能です。
|
