DiagnoSYS PinPoint II デジタルインサーキットテスタ

デジタルインサーキットテスト、VI解析（VIトレーサ）、バウンダリスキャン、PXI測定器テスト等の技術を駆使して修理基板の不良部品の特定と解析を行います。リバースエンジニアリングの機能を有しているので、回路図面が無くなっている古い製品の修理も可能です。PinPoint IIは、世界中のミッションクリティカルな環境（英・米軍、宇宙航空関連、公共交通機関等）で数多く使用されています。

特徴1 16,000以上のデジタルテスト・デバイス・ライブラリ

テストには、テストクリップが使用されます。 ICパッケージタイプは、SSOP、TSOP、TSSOP、TSOP1、QFP、PQFP、TSOP2、PGA、ZIP､PLCC、SIL、DIP等に対応します。

特徴2 リバースエンジニアリング

画期的なマルチプル・クリップを使用して、ネットリストとスキマティック・ダイアグラム（回路図）を作り出すことができます。回路図は簡単に、かつ正確に作り出すことができ、不良解析用として利用、あるいは既に廃止品となっている製品基板回路をリバースエンジニアリングの形で再生することができます。

特徴3 選べるシステムコンポーネント

TestViewというDiagnoSYS開発の強力なシステムソフトウエアと直感的なGUI（Graphic User Interface）が用意されており、ハードウエアは、8スロット・240ピン構成、あるいは14スロット・1664ピン構成の何れかを選択します。システムは、PXI測定機能を追加することもできます。 システムコンポーネントとしては。コントローラカード（１システムに１つ必要）、PD2・ドライバーカード、P2PMX・マルチプレクサ、P21・VIコントローラ、P2A・アナログカード、P2S・96ピン・スキャナカード、P2M・4x96チャネルマトリクスカード、P2E・128ピン・デジタルカード等が用意されており、テスト目的に応じて選んでいただけます。 なお、仕様の詳細については資料をダウンロードしてご参照ください。