Corelis バウンダリスキャン DIMMソケットテスタ　ScanDIMM

ScanDIMMは、バウンダリスキャンテスト（BST）技術を応用したDIMMソケットテスタです。
BST技術の応用により、DIMMソケットのインターコネクトテストを実施し、検知・発見が困難なクロック信号の切断モード（オープン）を発見し、症状（不良）の解析と分析が可能です。また、BST技術応用で設計されていないDIMMボードでも、電源ピンやグランドピンも含んだ、ソケットの各ピンの接合検査が可能です。

特徴1 SDARM、DDR、DDR2、DDR3タイプのメモリモジュールのDIMMとSODIMMフォームファクタをサポート

各種DIMMタイプのフォームファクタをサポートします。種類に関しては、仕様書をご参照ください。

特徴2 最大8枚までのScanDIMMを搭載可能

• 電源ピン、グランドピンのオープンも検出
• TAP入力、TAP出力を自動検出
• 電源とTAPコネクションをLED表示

特徴3 その他の機能

• 自動テストパターン作成用、BSDLファイルを提供
• テスト周波数、25MHz
• 双方向、トライステート各ピンの駆動電圧と検出を独立にコントロール
• JTAG・IEEE 1149.1/E Test Port Access（TAP)に完全適合
• ScanExpress Runnerを使ったセルフテスト機能
• JEDEC標準フォームファクターに準拠：MO-161~269