Corelis JTAG・CPU基板
ファンクションテスター(JET)
JATG対応CPU搭載基板のエミュレータ・デバッグポートを利用してファンクションテストが可能。テストカバレッジが飛躍的に向上します。JTAG非対応デバイスやアナログデバイスのテストを可能にしました。

特徴1 各種JTAG対応CPU搭載基板に対応
JTAG対応CPUからアクセスできるすべてのリソース(アナログ、JTAG非対応デバイスを含む)がファンクションテストできます。テストプログラム開発は、JTAG対応CPUプラットフォーム上で、特定CPUに対して行われます。また、CPUからアクセスできないリソースは、JTAG対応デバイスのバウンダリスキャンテスト(ScanExpress Runnerを使用)することにより、テストカバレッジは飛躍的に向上します。
特徴2 JET(JTAG Emulation Test)ソフトウエア支援により、自動テストプログラム開発
強力なソフトウエア支援により、テストプログラム開発からテスト実行まで、GUI(Graphical User Interface)によってガイドされるので、CPUに関する特殊な知識は不要です。JETテスト手法は、ターゲットCPUのパワーを統制し、コードをダウンロードしてデバイス・プログラミングを可能にしたうえで、アットスピードのテストを可能にしたものです。
特徴3 最高のテストカバレッジを実現
下表は、BST(バウンダリスキャンテスト)、FCT(ファンクションテスト)、JET(JTAGエミュレーションテスト)のテストカバレッジを例証しています
| 特徴 | BST | FCT | JET |
|---|---|---|---|
| ストラクチャル・カバレッジ | 非常に良 | 良 | 最高に良 |
| ファンクショナル・カバレッジ | 低 | 高 | 高 |
| プログラム開発時間 | 平均的 | 短時間 | 短時間 |
| テスト時間 | 速い | 速い | 速い |
| 必要なテストポイント | 少 | 少 | 少 |
| プログラム開発方法 | 自動 | セミオート | 自動・セミオート |
| 解析能力 | 非常に良 | 平均的 | 非常に良 |
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