Corelis
ScanExpress バウンダリスキャンテストツール
IEEEの規格に準拠したJTAGテストツール(ソフトウエアとハードウエア)を提供します。CSP、BGA、MCM等、プローブを当てることが不可能な部品が搭載されている基板の検査ができます。Corelisでは、目的に応じて各種コントローラを用意しています。

特徴1 豊富なソフトウエアとハードウエアを準備
パソコンベースでテストパターンの自動生成(TPG)、テストを実行(ScanExpress Runner)、不良箇所の解析(ScanExpress ADO)が可能です。また、ハードウエアには、JTAGコントローラに加えて、TAP(4、8、32チャネル)やHUB(コンカレント・テスト)を付加ふることにより、最大8,192までのJTAGポートを構成できます。
特徴2 半田ブリッジ、オープン等ピンレベルの不良発見と解析
以下のような検査機能を備えています。詳しくは、バウンダリスキャン・チュートリアルをダウンロードしてご参照ください。
- TAP Integrity Test
- Interconnect Test
- Bus Wire Test
- Cluster Test
特徴3 各社ATE(Automatic Test Equipment)TPG(Test Program Generator)に搭載
Agilent Technologies社、CheckSum社、Teradyne社のボードテスター・フライングプローバやICテスターに搭載可能です。
バウンダリスャンテスト関連製品(詳しくはお問い合せください)
| 製品名・モデル名 | 製品内容説明 |
|---|---|
| スScanExpress TPG | バウンダリスキャン・テストベクタ自動生成ソフトウェア |
| ScanExpress TPG/MT | 12ヶ月ソフトウェア・サポート契約 |
| ScanExpress Runner | バウンダリスキャン・テストソフトウェア |
| ScanExpress Runner/MT | 12ヶ月ソフトウェア・サポート契約 |
| ScanExpress ADO | アドバンスト・ダイアグノスティック・オプション(ランナーに追加) 半田ブリッジ等の不良をピンレベルで解析 |
| ScanExpress ADO/MT | 12ヶ月ソフトウェア・サポート契約 |
| ScanExpress Debugger | 対話型ソフトウェア・デバッガ機能 |
| ScanPlus Debugger/MT | 12ヶ月ソフトウェア・サポート契約 |
| ScanExpress DFT | 設計基板のテスタビリティ算出 |
| ScanExpress DFT/MT | 12ケ月ソフトウエア・サポート契約 |
| JTAG Demo Board | トレーニング用デモボード |
| PCI-1149.1/Turbo | PCIバス・バウンダリスキャン・コントローラ |
| USB-1149./E | USBベース・バウンダリスキャン・コントローラ |
| PCMCIA-1149.1/E | PCMCIAフォーマット・バウンダスキャン・コントローラ |
| CPXI-1149.a/Turbo | PXI対応バウンダリスキャン・コントローラ |
| SCANIO/300 | 300のイン・アウトピンを持ったバウンダリスキャン・ゲートアレー対応 モジュール |
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