TR-10 インサーキット・テストシステム

ベクターレステストと有極コンデンサーの逆付け不良の検出を可能にした、超省スペース型のインサーキットテスタです。カード追加により、アナログ・ファンクションテスト（TR-6）と低速デジタルIOテスト（PWR-2）が可能です。

特徴1 テストジェット技術搭載、最大8,000テストピン構成

ATTestJet（アジレント・テクノロジーズ テストジェット）技術搭載により、デジタルICのベクターレステスト、有極コンデンサーの逆付け不良の検出、コネクタ半田付け不良の検出が可能です。また、最大8,000テストピン構成が可能です。

特徴2 超省スペース、豊富な治具

テスタリソースはすべてIPC（工業用パソコン）に格納され、超小型のインサーキット・テストシステムです。検査目的に応じて、ハンドプレス、自動プレス、インライン対応プレス等と組み合わせて使用でき、テスタ占有領域は非常に小さくできます。

特徴3 マルチラーター組み合わせによるインシステム・プログラミング

TR-10にChekSumマルチライター機能を組み合わせれば、インシステム・プログラミングが可能になり、最大384までのオンボードメモリがプログラムできます。

特徴4 強力なソフトウエア

テストプログラム開発を支援する強力なソフトウエアにより、プログラム開発時間の大幅な削減が実現できます。また、統計的プロセスコントロール・レポート機能により、テスト基盤数/良品・不良品基板数/不良点数/良品率などのレポート様式を出力するソフトウエアが標準で用意されています。テスト結果は、パレート・フェイルレポート/測定データの平均値/標準偏差値/上限・下限値/3シグマなどの様式に処理して表示します。

テスト機能	オープン/ショート、抵抗、容量、コイル、ＤＣ電圧、トランジスター、FET、光アイソレーター、リレイ、ダイオード、ツエナー・ダイオード、LED、変圧器、IC内部保護ダイオード、（TestJetによる）ICピン実装不良と有極コンデンサー極性、オートラーンモード
オプション	デジタルIO（最大96ピン）、BST（バウンダリスキャン・テスト）、（仕様の詳細は、カタログをヅンロードしてご覧ください）

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